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2012 - Tokyox

Visible Spectral Reflectance Analysis in a Metal-Insulator-Metal (MIM) Multilayer with COMSOL Multiphysics

Y. Oshikane[1], K. Murai[1]
[1]Osaka University, Suita City, Osaka, Japan

We are developing a reflective metal-insulator-metal (MIM) filter with narrow band absorption. In the MIM structure, the interaction between subwavelength multilayer and visible light, and the resultant surface plasmon resonance (SPR) in specific illumination conditions must be ... En savoir plus

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